Bowman涂层厚度测量仪器来自美国芝加哥，它具有先进的检测技术和先进的软件，该软件使系统还可以确定样品中存在的元素，通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域，由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。
Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用，优廉的价格可以快速实现投资回报。
-
G系列 珠宝业的过渡金属分析
-
B系列 小型电镀样品
-
P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属
-
O系列 较大测量点的薄膜分析
-
M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜
-
L系列 大型电镀样品
-
W系列 用于测量微电子领域的最小特征
智能化设计，强大的分析
-
几秒内完成金属镀层无损分析
-
成分分析最多可分析25种元素
-
同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
-
基础参数法-半定量分析厚度与成分
-
轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
-
简洁的前控制面板
-
占地面积小
-
轻量化设计，方便挪动
直观的用户界面
-
提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
-
基于.Net框架 Xralizer 软件
-
直观的图标引导用户界面
-
强大的定性/无标样分析功能
-
功能强大的标准片库
-
可定制快捷键，方便操作
-
灵活的数据显示和导出
-
强大的报告编辑生成器
性能，强大，便利
-
紧密耦合的几何设计大大提高测量效率和精度
-
经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
-
仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
-
可实现银、锡的L线薄膜分析
-
多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
-
灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
-
模块化组件设计，维护简单
