超薄镀层测厚仪博曼BA-100

博曼Bowman镀层测厚仪，专业用于PCB电路板行业和高端要求的表面处理行业使用。

机器可以测量更小的面积，更多层的镀层，更薄的镀层厚度，测量数据非常稳定。

品牌：博曼Bowman   型号：BA-100 博曼Bowman中国区总代理

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 机型采用先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应最严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

良好的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

• 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量光斑

• 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

• 长寿命的射线管灯丝

• 快速的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

• 有效提高X射线信号强度

• 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

• 小于100um直径的测量斑点

• 经过验证，接近完美的测量精度

性能与可操作性的高效化

• 紧凑式设计，改善效率和精度

• 高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度

• 更短的预热时间，更长寿命的光管

• 多种规格一次滤波器和准直器

• 可变焦距适应复杂样品的测量需求

• 模块化设计，方便维修、维护

简单的设计、强大的分析能力

• 快速、无损的分析

• 成份分析最多可达25种元素

• 同时可最多分析5层

• 基于基本参数法的镀层和成份分析方法

• 仅需一根USB线与电脑连接

• 快捷的面板控制按钮

• 占用空间小、轻量化设计

直观的用户界面

• 的分析灵活性，减少用户出错机会

• 基于Net framework框架的Xralizer软件

• 直观的图标引导用户界面

• 强大的定性、无标样分析功能

• 功能强大的标准片库

• 用于快速分析的可定制快捷键

• 灵活的数据显示与导出

• 强大的报告编辑生成器

常见的镀层应用：

线路板 ：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引线框架和连接器 ：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行业：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材：Sn/Cu

通讯和数据储存设备 ：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠宝、贵金属 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

二十多年来，深圳鼎极天一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和优质的服务都得到客户的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。