Bowman涂层厚度测量仪器具有高效检测技术和精密的软件，该软件使系统还可以确定样品中存在的元素。 我们的XRF仪器可同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金，也可以测量HEA（高熵涂层）。
通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。
Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用，优质的价格可以快速实现投资回报。
全系列产品满足用户不同的测量需求
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G系列 珠宝业的过渡金属分析
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B系列 小型电镀样品
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P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属
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O系列 较大测量点的薄膜分析
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M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜
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L系列 大型电镀样品
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W系列 用于测量微电子领域的最小特征
智能化设计，强大的分析
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几秒内完成金属镀层无损分析
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成分分析最多可分析25种元素
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同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
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基础参数法-半定量分析厚度与成分
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轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
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简洁的前控制面板
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占地面积小
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轻量化设计，方便挪动
直观的用户界面
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提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
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基于.Net框架 Xralizer 软件
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直观的图标引导用户界面
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强大的定性/无标样分析功能
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功能强大的标准片库
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可定制快捷键，方便操作
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灵活的数据显示和导出
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强大的报告编辑生成器
性能，强大，便利
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紧密耦合的几何设计大幅度提高测量效率和精度
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经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
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仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
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可实现银、锡的L线薄膜分析
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多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
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灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
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模块化组件设计，维护简单
