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企业信息
功率器件CV测试系统
系统方案 普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。功率器件CV测试系统认准普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；进行C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用
最后更新：2024-04-08
半导体分立器件测试系统+半导体器件电性能测试仪
半导体分立器件是指以半导体材料为基础的单一元件，包括各种半导体材料制成的二极管、三极管、场效应管、可控硅等，具有整流、放大、开关、检波，稳压、信号调制等多种功能，衡量晶体管性能好坏主要是通过I-V测试或C-V测试来提取晶体管的基本特性参数，并在整个工艺结束后评估器件的优劣。半导体分立器件特性参数测试是对待
最后更新：2024-04-08
半导体电学特性测试系统IV+CV测试仪
半导体电学特性测试系统IV+CV测试仪特点： 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03%精度； 内置标准器件测试程序，直接调用测试简便； 自动实时参数提取，数据绘图、分析函数； 在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线； 提供灵活的夹具定制方案，兼容性强； 免费提供上位机软件及SCPI指令集；
最后更新：2024-04-08
霍尔延时响应测试电流传感器测试系统
霍尔延时响应测试电流传感器测试系统特点和优势：超快300A/us上升沿； 可集成数字万用表、示波器； 可集成温箱，动静态参数一体化测试； 可定制各种穿心式、连接式夹具； 可测量开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门电流传感器； 单台设备最大输出1000A； 0.1%精度；详询一八一四零六六三四七六；产品简介 电流传感器
最后更新：2024-04-08
功率器件功能高压测试模块
E系列功率器件功能高压测试模块特点和优势： 十ms级的上升沿和下降沿； 单台最大3500V的输出； 0.1%测试精度； 同步电流或电压测量； 支持程控恒压测流，恒流测压，便于扫描测试；部分参数最大输出功率：350W，3500V/100mA（不同型号有差异）； 输出电压建立时间典型值：5ms； 输出接口：E100:三同轴BNC；E200、E300:KHV（
最后更新：2024-04-08
脉冲大电流源1000A脉冲恒流源
脉冲大电流源1000A脉冲恒流源特点和优势： 50~500us的脉冲宽度连续可调； 15us的超快上升沿； 同步测量电压； 单台最大可达1000A输出； 可极性反转； 0.1%测试精度；高电流脉冲电源为脉冲恒流源，具有输出电流大（1000A）、脉冲边沿陡（15us）、支持两路脉冲电压测量（峰值采样）、支持输出极性切换等特点。 设备可广泛应用
最后更新：2024-04-01
多功能脉冲源表_脉冲IV测试仪
多功能脉冲源表_脉冲IV测试仪优势：大到300V的量程、精度0.03%； 标准的SCPI指令集； 尤秀的性价比； 良好的售后服务与技术支持；详询一八一四零六六三四七六；P系列多功能脉冲源表_脉冲IV测试仪是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出
最后更新：2024-04-01
光电探测器性能测试SMU数字源表
光电探测器光电测试光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成最终的特性分析和分拣操作;光电探测器在工作时,需要施加反向偏置电压来拉开光注入产生的电子空穴对,从而完成光生载流子过程,因此光电探测器通常在反向状态工作;测试时比较关注暗电流、反向击穿电压、结电容、响应度、串扰等参数。 利
最后更新：2024-04-01
