台硕TSE-432FS双视野拼接测量仪

TSE-400系列拼接式闪测仪采用双远心光学系统，结合高精度图像拼接测量算法。在CNC模式下，任意放置工件后，只需按一下启动键，即可快速完成尺寸测量和评价，能快速测量产品的平面尺寸和形位公差。仪器量测测量效率是传统影像仪器的10-20倍。

产品优势

1）超高的效率，大视野测量范围400*300mm，可同时测量上百个产品。30s内即可测量上千个尺寸，效率是传统仪器的10-20倍。

2）优秀的模板匹配功能，产品可任意摆放，无需治具。具有多种模板匹配模式，确保复杂工件都能够精准匹配。

3）强大的拼接测量功能，可支持多图层、多光源切换拼接，不仅可以测量薄片类产品，还可以测量有一定厚度的产品。

4）完善的测量工具，可直接测量点、线、圆、弧、轮廓；丰富的构造工具包含相交、相切、垂直、平行、镜像、平移、旋转；

5）完善的坐标体系，支持工件多重坐标系，支持坐标平移、旋转、调用；

6）支持点激光、线激光，可同时测量高度差、深度、平面度。

应用领域

TSE系列闪测仪适合测量手机玻璃、手机后盖、平板中框、FPC、模切、手机摄像头，精密五金配件等产品。