美国博曼(Bowman)BA-100系列 X射线荧光镀层测厚仪 P系列适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析,可测元素广泛,Al13—U92,成份分析最多可达25种元素,最多可测4层镀层+基材层的镀层厚度仪器型号:BA-100-P-MVE,采用预热时间短,长寿命的50W(50
最后更新:2025-01-07
深圳鼎极天代理的博曼BA-100镀层测厚仪P系列可满足以下类型用户的需求:小型镀件领域,如紧固件,连接器或PCB需要测试多个样品的多个位置期望在多个样品上实现自动化测量样品尺寸和应用经常变化符合IPC-4552A,4553A,4554和4556P系列提供了测量各种样品尺寸,形状和数量的灵活性。 它配备了一个可编程XY平台,可在一个固定
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X荧光的原理:对被测样品发射一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。 通过测量被释放出的二次X射线的特征能量和强度,就能够对被测样品的镀层厚度和成份进行定性和定量分析。深圳鼎极天电子为广大新老用户提供膜厚测量仪,膜厚仪,厚度测量仪等设备,还有实验室一系列配置。我公司的产品中心将膜厚
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Bowman XRF系统使用专门设计的微点聚焦X射线管作为能源,温度稳定的SDD探测器,宽带宽,多通道放大器用于对辐射光子进行分类和计数。 Bowman Xralizer软件采用独特的算法来测量检测到的光子中材料的厚度。通过微焦点相机对准X射线光学轴线选择样品的测试区域,由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。膜厚仪厂家,美国
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深圳鼎极天也是博曼BOWMAN华南区总代理、技术中心,我们技术是膜厚测试仪界最有优势的厂家。在测厚仪膜厚仪的领域,我们鼎极天做得很大,业绩傲人,不但可以销售,同时也可以出租我司检测仪器,配备实验室一系列设备,还可以代客户检测产品数据,运用灵活,维修、保养均在我司服务范围,可以满足广大客户的使用需求。我们的
最后更新:2025-01-07
最后更新:2025-01-07
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X射线是由德国物理学家Wilhelm Rontgen在1895中发现的。 他称未知的光源导致他的电影曝光“X射线”并用手的X射线图像发表了他的发现。现在已知X射线是电磁辐射的一种形式,频率在紫外和伽马射线之间。大多数X射线的波长从0.01到10纳米,Bowman XRF分析仪使用X射线荧光技术进行材料厚度和成分分析。康拉德伦琴获得1901年度诺
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