导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件
最后更新:2024-12-16
概述:采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室;是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示,温度补偿功能,自动量程,自动测量电阻,电阻率,电导率数据。恒流源输出;选配:PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器,薄膜按键操作简单,中文或
最后更新:2024-12-16
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高
最后更新:2024-12-16
操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作:1.1.开机预热:将220V电源插头插入电源插座,打开电源开关,让仪器预热15分钟,保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动,请按以下步骤检查:①检查电源线是否接触良好;②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝④如经上述检
最后更新:2024-12-16
1.功能强大,涵盖了现有关于过滤器完整性检测的所有测试方法。2.国内首家实现超滤系统的完整性检测。3.科学的权限管理设计,密码登录、权限分级、电子签名等,完全符合FDA 21CFR PART 11的要求。4.仪器自带审计追踪功能,可记录32项操作事件日志,真正满足数据完整性的要求。5. 可建立80组预存方案,仪器更加简单化、智能化
最后更新:2024-12-13
性能参数:电源要求/功率100 – 240 VAC, 50HZ, 120W 备用电池(选配)操作压力100-10000 mbar (150psi) ;单位mbar操作条件环境温度:+5℃ ~ +40℃;相对湿度:10-80%外型尺寸(mm)450(长) ×280 (宽) × 190(高)测试功能手动泡点测试;基本泡点测试;增强泡点测试; 保压测试;扩散流测试;水浸入测试;超滤膜包测试测试
最后更新:2024-12-13
性能参数:串口连接方式串行端口:RS232;保压范围:0-6000 mbar;扩散流:0-2000ml/min;水浸入:0-50ml/min测试范围Z大测试压力:500-6000mbar;气泡点:500-6000 mbar;1992年赛多利斯公司提出了一种针对疏水性滤器的在线进行完整性测试的方法,即WIT。WIT是以水为介质测量浸没在水中的疏水滤器上游空气压力的降低速率。
最后更新:2024-12-13
工作环境环境温度Ambient temperature:15℃~40℃ ;环境湿度:≤ 80%RH ;电源要求Power:AC220V ±22V,50Hz ±1Hz;使用环境:环境清洁,无腐蚀性气体;起泡点法泡点测试是基于液体在过滤膜孔中存在的表面张力和毛细管现象原理的一种非破坏性的测试方法;是检测滤膜是否完整并符合要求最重要的方法。滤膜被完全、充分浸
最后更新:2024-12-13